Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopia de la Universidad Complutense de Madrid.

Suministro e Instalación de un Sistema de Haz Dual para preparación de Lamellas (FIB) en la ICTS Centro Nacional de Microscopia de la Universidad Complutense de Madrid.

• PRECIO
  51%
• Detector extra (adicional a los detectores en el PPT) en cámara
  5%
• Extensión del plazo de garantía
  5%
• Grado de automatización del proceso de fabricación de lamella
  5%
• Capacidad del equipo para soldar la lamella a la rejilla sin necesidad de usar deposición de ningún tipo
  2%
• Presencia de sistemas de compensación de la carga durante el uso del haz de iones
  3%
• Versatilidad del portamuestras, teniendo en cuenta el número de posiciones disponibles
  2%
• Versatilidad en cuanto al número de segmentos y la composición de señales del detector BSE en cámara
  2%
• Disponer de Software de programación mediante Python
  2%
• Sistema de afilado de la punta que esté totalmente integrado en el software
  2%
• Versatilidad del detector STEM atendiendo especialmente al número de sectores y los modos de toma de imagen en STEM
  2%
• Versatilidad del equipo en cuanto a que permita registrar imágenes SEM y STEM en tiempo real
  3%
• Licencias infinitas del procesado del sistema EDX
  5%
• Se valorará si permite la captura de imágenes con resolución al menos de 65kx65k
  2%
• Grado de integración de todos los elementos del suministro dentro del software de control del FIB
  4%
• Sistema de limpieza por plasma acoplado a la cámara
  5%

• Volumen anual de negocios

  Solvencia económica o financiera, según lo establecido en el apartado 5 de la carátula del PCAP.

• Relación de principales suministros (OSR)

  Solvencia técnica o profesional, según lo establecido en el apartado 5 de la carátula del PCAP.

• Capacidad de obrar